消費(fèi)類電子產(chǎn)品老化試驗(yàn)項(xiàng)目和說(shuō)明

是指在一定的環(huán)境溫度下、較長(zhǎng)的時(shí)間內(nèi)對(duì)元器件連續(xù)施加環(huán)境應(yīng)力，適用于電氣絕緣材料的耐熱性試驗(yàn)，電子零配件、塑化產(chǎn)品之換氣老化試驗(yàn)，考核和判斷其在高溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性，試樣在模擬高溫和大氣壓力下的空氣中老化后測(cè)定其性能并與未老化樣的性能予以比較。

老化試驗(yàn)的作用：1.對(duì)于工藝制造過(guò)程中可能存在的一系列缺陷，如表面沾污、引線焊接不良、溝道漏電、硅片裂紋、氧化層缺陷和局部發(fā)熱點(diǎn)等都有較好的篩選效果。2.對(duì)于無(wú)缺陷的元器件，老化也可促使其電參數(shù)穩(wěn)定。

老化試驗(yàn)的項(xiàng)目：

高低溫濕熱老化試驗(yàn)：適用于各種復(fù)雜的濕熱老化測(cè)試，根據(jù)產(chǎn)品在使用過(guò)程中，容易受到溫度和濕度的雙重影響，根據(jù)不同的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)、行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)定溫度、濕度變化曲線，以評(píng)定是否適合在潮濕的環(huán)境下長(zhǎng)期使用。

執(zhí)行試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 15905、GB/T 2573、GB/T 2423，JG/T 25。

光照老化測(cè)試：模擬自然界全陽(yáng)光光譜的氙弧燈來(lái)再現(xiàn)不同環(huán)境下存在的破壞性光波,并對(duì)材料進(jìn)行耐光性與耐候性加速試驗(yàn)。

執(zhí)行試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：GB2423、.ISO 4892、.ISO 11341、ASTM G155、ASTM D4459。

鹽霧腐蝕老化：用于模擬大氣中的溶解于水蒸汽中的氯化鈉對(duì)涂層、鍍層等保護(hù)程以及金屬地材的腐蝕作用，常進(jìn)行中性鹽霧、酸性鹽霧、銅離子加速鹽霧測(cè)試。

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)： GB/T 10125、GB/T 12000\、ASTM D117 、JISZ2371。

關(guān)于科明

廣東科明環(huán)境儀器工業(yè)有限公司簡(jiǎn)稱科明（KOMEG）成立于1990年，是集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售、服務(wù)于一體的模擬環(huán)境可靠性試驗(yàn)設(shè)備國(guó)際知名企業(yè)。

KOMEG始創(chuàng)于1990年，全球數(shù)以千萬(wàn)計(jì)客戶的信賴。

持續(xù)為客戶創(chuàng)造價(jià)值，做一家有溫度的企業(yè)。

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